硬盘种类,硬盘缺陷的种类及其处理方式

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硬盘缺陷的种类及其处理方式

日期:2006-12-25   荐:
  如果经检测发现某个硬盘不能完全正常工作,则称这个硬盘是“有缺陷的硬盘”[Defect Hard Disk] 硬盘常见故障缺陷分为六大类:    ①坏扇区[Bad sector],也称缺陷扇区(Defect sector); ②磁道伺服缺陷(Track Servo defect); ③磁头组件缺陷(Heads assembly defect);   ④系统信息错乱(Service information destrUCtion); ⑤电子线路缺陷(The board of electronics defect); ⑥综合性能缺陷(Complex reliability defect);      每一类缺陷都有不同的内在原因和不同表现: 1、坏扇区(也称缺陷扇区),指不能被正常访问或不能被正确读写的扇区。一般表现为:高级格式化后发 现有“坏簇(Bad Clusters)”;用SCANDISK等工具检查发现有“B”记录;或用某些检测工具发现有“ 扇区错误提示”等。 一般每个扇区可以记录512字节的数据,如果其中任何一个字节不正常,该扇区就属于缺陷扇区。每个扇 区除了记录512字节的数据外,另外还记录有一些信息:标识信息、校验码、地址信息等,其中任何一部 分信息不正常都导致该扇区缺陷。 多数专业检测软件在检测过程中发现缺陷时,都有类似的错误信息提示,常见的扇区缺陷主要有几种情况 : ①校验错误 (ECC uncorrectable errors,又称ECC错误)。系统每次往扇区中写数据的同时,都根据这 些数据经过一定的算法运算生成一个校验码(ECC = Error Correction Code),并将这个校验码记录在 该扇区的信息区。以后从这个扇区读取数据时,都会同时读取其校检码,并对数据重新运算以检查结果是 否与校检码是否一致。如果一致,则认为这个扇区正常,存放的数据正确有效;如果不一致,则认为该扇 区出错,这就是校验错误。这是硬盘最主要的缺陷类型,导致这种缺陷的原因主要有:磁盘表面磁介质损 伤;硬盘写功能不正常;校验码的算法差异。    ②IDNF错误(sector ID not found),即扇区标识出错,造成系统在需要读写时找不到相应的扇区。造 成这个错误的原因可能是在系统参数错乱,导致内部地址转换错乱找不到扇区;也有可能是某个扇区记录 的标识信息出错导致系统无法正确辨别扇区。 ③AMNF错误(Address Mark Not Found),即地址信息出错。一般是由于某个扇区记录的地址信息出错, 系统在对其访问时发现其地址信息与系统编排的信息不一致。 ④坏块标记错误(Bad block mark)。某些软件或病毒程序可以在部分扇区强行写上坏块标记,让系统不 使用这些扇区。这种情况严格来说不一定是硬盘本身的缺陷,但想清除这些坏块标记却不容易。    2、磁道伺服缺陷:         现在的硬盘大多采用嵌入式伺服,硬盘中每个正常的物理磁道都嵌入有一段或几段信 息作为伺服信息,以便磁头在寻道时能准确定位及辨别正确编号的物理磁道。如果某个物理磁道的伺服信 息受损,该物理磁道就可能无法被访问到。这就是“磁道伺服缺陷”。一般表现为,分区过程非正常中断 ;格式化过程无法完成;用检测工具检测时,中途退出或死机,等等。 3、磁头组件缺陷:        指一个硬盘中磁头组件的某部分不正常,造成部分或全部物理磁头无法正常读写的情 况。包括磁头磨损、磁头接触面脏、磁头摆臂变形、音圈受损、磁铁移位等。一般表现为通电后,磁头动 作发出的声音明显不正常而无法被系统BIOS检测到;无法分区格式化;格式化后发现从前到后都分布有大 量的坏簇,等等。 4、系统信息错乱:         每个硬盘内部都有一个系统保留区(service area),里面分成若干模块保存有许多 参数和程序。硬盘在通电自检时,要调用其中大部分程序和参数。如果能读出那些程序和参数模块,而且 校验正常的话,硬盘就进入准备状态。如果某些模块读不出或校验不正常,则该硬盘就无法进入准备状态 。一般表现为,PC系统的BIOS无法检测到该硬盘或检测到该硬盘却无法对其进行读写操作。如某些系列硬 盘的通病:Maxtor美钻二代系列硬盘通电后,磁头响一声,马达停转;Fujitsu MPG系列在通电后,磁头 正常寻道,系系BIOS却检测不到;Quantum 火球系列,系统能正常认出型号,却不能分区格式化;Western Digital的EB BB系列,能被系统检测到, 却不能分区格式化,等等。 5、 电子线路缺陷:
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       指硬盘的电子线路板中部分线路断路或短路,某些电气元件或IC芯片损坏等。有部 分可以通过观察线路板发现缺陷所在,有些则要通过仪器测量后才能确认缺陷部位。一般表现为硬盘在通 电后不能正常起转,或者起转后磁头寻道不正常,等等。比较常见如:Quantum火球系列的线路板中的TDA 5427芯片烧毁;Maxtor的星钻系列美钻系列的伺服芯片烧毁,等等 6、 综合性能缺陷:        有些硬盘在使用过程中部分芯片特性改变;或者有些硬盘受震动后物理结构产生丝微 变化(如马达主轴受伤);或者有些硬盘在设计存在缺陷……最终导致硬盘稳定性差,或部分性能达不到 标准要求。一般表现为,工作时噪音明显增大;读写速度明显太慢;同一系列的硬盘大量出现类似故障; 某种故障时有时无,等等。 更多内容请看带你认识硬盘知识  话说硬盘知识  数据库处理专题专题,或

(出处:http://www.sheup.com)


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