如何测试光驱
现在光驱的发展已经趋于缓慢，由于光驱的技术已经几乎发展到尽头，速度也不再是各厂家竞争的焦点。从去年开始，市场里又有了许多新兴厂商，它们以光驱的功能为突破口，风风火火地打了一场功能战，占领了很大的市场份额，但一些老牌厂家依旧以其良好的产品形象吸引着一些忠实的用户群。新老厂家推出的CD-ROM产品各有各的特色，让众多的DIY用 户选择起来非常的头疼，所以现在许多评测报告，虽然在一些程度上可以给用户一些参考建议。但是要评定一款光驱的优劣最好还是亲自动手进行测试，下面我们主要介绍一下测试光驱所用的测试软件和测试中要注意的项目，及光驱优化方法。
测试软件介绍
测试光驱的性能我们可以使用很多软件，但是在一些评测报告中经常使用的主要有CD-Winbench99、CD-Speed99等，首先CD-Winbench99可以反映光驱的综合指标，包括内外径的传输率，寻道时间，CPU的占用率。但对于40X以上的光驱来说，由于CD-Winbench99的测试碟的总共数据才552MB(必须用专用盘片)，其数据并没有机会放到碟片的最外部区域(盘片的数据存放顺序是由内到外)，而40X光驱要达到最大的40倍速，盘片的数据量必须大于600MB以上。
由于以上原因，我们采用CD-Speed99来作为补充，CD-Speed99可以测量出最大转速，其传输率曲线可以清楚地反映读碟能力。大家都知道，当碟片的数据读取有困难时，光驱必须降速以利于读数据。读碟能力越差的光驱其降速越厉害，以前有一些对光驱的读碟能力的评测，根据读取烂碟片的数据目录的时间长短来评分的方法，这种方法有很大的主观性，时间的测量很难精确，损坏区域对目录区域的影响程度也是个未知数。
测试项目
测试软件大家已经了解了，那么我们鉴定一款光驱好坏应该进行那些项目的测试呢？大体上测试光驱应该分为速度测试、容错性测试、寻道时间、CPU占用率等。如果光驱能够在这些测试项目中表现优异，就可以表明这款光驱的综合性能不错。
速度
CD-ROM有CLV(恒定线速度)和CAV(恒定角速度)及P-CAV(部分恒定角速度)三种控制方式，现在大部分CD-ROM采用CAV方式。早期的CD-ROM为了激光头能够锁定资料，采用恒定盘片线速度的方法，但这种方法有一个致命的缺点，在读取数据时，由于资料的不连续性，激光头必须经常变换位置，从而加大了主轴马达的控制难度。巨大的发热量让本来就通风不良的CD-ROM电路板工作稳定性下降，盘片在高温下反射激光的效率下降，激光头读取数据的能力大打折扣。
CAV方式可以避免太多加速及减速控制，极大地减少了发热量，对于系统的稳定性起到很好的作用。但这种控制方式需要激光头有较好的解读能力，数据采集电路需要做得更复杂些。P-CAV方式在较小内径时仍为CAV控制方式，在激光头到达某一定点后，再改为线速度一致的方式，这样可以减轻数据采集电路的负担。
如果是以前的低速光驱，不必对光驱的发热量多加关注，不过现在的主流光驱的速度都在32X以上，我们必须正视高速所带来的影响，第一个恶果就是光驱内部的发热量急剧增加。电路在高温下的稳定性会降低，盘片化学介质在高温下的光学特性会有所改变，激光头读取数据的准确性会有所降低。高速所带来的第二个恶果就是振动。在讲振动以前，让我来先讲解一下光驱内部的一些机械结构方面的知识。读者可以从这些预备知识获取下面测试参数的分析原理。光盘一放进光驱内，在盘片下方的主轴立刻穿过碟片中心的小圆孔，并将盘片托在空中，在主轴上方会放下一个小磁铁，磁铁与主轴牢牢紧贴并将中间的盘片紧紧固定。激光头为了能够读取数据，理论上说离碟片越近越好，这样反射光线就更强一些。但碟片并不是绝对的平面，碟片的有机介质的厚度有厚有薄，反射光线的强度自然是不一致的。要命的是，盘片由于高速所带来的振动，让数据采集电路剔除杂乱信号增加了难度。决定一台光驱对数据的快速读取能力不仅仅要主轴速度的提升，也要求防振、防高温、数据采集电路等等综合能力的提高。如果光驱必须降速读取数据，那么可能这台光驱的防振动能力，数据采集电路，防高温能力的某一部分能力不足，这不仅仅是激光头的功率不够的问题。
容错即读“烂碟”能力如今各类CD-ROM产品都强调自身具有超强纠错的能力，其实随着数据读取技术趋于成熟，大部分主流产品的容错能力还是可以接受的。但是有些产品是通过调大激光头发射功率来达到纠错目的，使用较长的时间以后，激光头老化，性能就会大幅度下降。另一部分优秀产品采用了先进的容错技术和较好的伺服系统，加上中等功率的激光发射，在读盘能力较强的前提下，始终保持良好的表现，这样的光驱才算得上真正的“超强纠错”。
寻道时间可能有些读者也了解寻道时间越短越好，但他们并不知道究竟好在哪里。寻道时间越短的光驱在安装软件，放VCD等功能方面并没有多大的优势，只有在查阅光驱电子词典等随机查询软件应用方面才有明显优势。
CPU占用率CPU的占用率可以反映光驱的BIOS编写能力。优秀产品可以尽量减少CPU占用率，这实际上是一个编写BIOS的软件算法问题，当然这只能在质量比较好的盘片上可以放映。如果碰上一些“烂碟”，CPU占用率会直线上升，所以如果用户想节约宝贵的时间，必须选购那些读“烂碟”能力较强和CPU占用率低的光驱。从测试数据可以看出，在读质量较好的盘片时，成绩差距不会超过2个百分点，在读质量不好的盘片时，差距就会急剧扩大。
其他指标评价光驱其实还有其它的指标，譬如噪音和振动，都是不可小视的问题。另外一个很重要的问题就是售后服务的问题。以前光驱通常只有三个月的质保期，这令用户颇为不满。现在很多厂家能在售后服务方面下功夫，是非常可喜的现象。有些提出1年，起码可以表明厂方对这款产品的质量还是很有信心的。因此，质保期较长，售后服务较好的产品，一般具有比较稳定的性能。
（出处：http://www.sheup.com）
CPU占用率CPU的占用率可以反映光驱的BIOS编写能力。优秀产品可以尽量减少CPU占用率，这实际上是一个编写BIOS的软件算法问题，当然这只能在质量比较好的盘片上可以放映。如果碰上一些“烂碟”，CPU占用率会直线上升，所以如果用户想节约宝贵的时间，必须选购那些读“烂碟”能力较强和CPU占用率低的光驱。从测试数据可以看出，在读质量较好的盘片时，成绩差距不会超过2个百分点，在读质量不好的盘片时，差距就会急剧扩大。
其他指标评价光驱其实还有其它的指标，譬如噪音和振动，都是不可小视的问题。另外一个很重要的问题就是售后服务的问题。以前光驱通常只有三个月的质保期，这令用户颇为不满。现在很多厂家能在售后服务方面下功夫，是非常可喜的现象。有些提出1年，起码可以表明厂方对这款产品的质量还是很有信心的。因此，质保期较长，售后服务较好的产品，一般具有比较稳定的性能。
（出处：http://www.sheup.com）